徕卡EM TXP 标靶面制备系统是用锯，磨，铣削，抛光样品后，供扫描电镜，透射电镜，和LM技术检测。 带有一体化体视镜，用于精确定位及对较细微难以观察的目标位置进行样品处理时观察；使用样品旋转手柄，可以改变样品观察角度，0°－60°可调，或者垂直于样品前表面90°观察，可利用目镜刻度标尺测量距离。

徕卡EM UC7提供半薄, 超薄切片和容易准备，以及样品表面光滑处理，为透射电镜，扫描电镜，原子力显微镜和光镜检验生物和工业样品。

三离子束切割仪 几乎任何材质样品都可获得高质量截面，在没有任何变形或损伤的情况下揭开样品内部Z真实结构信息，在使用徕卡EM TIC3X之前，这类工作从未变得如此之简单。

徕卡冷冻超薄切片系统 Leica EM FC7

多功能修快机,电镜,扫描电镜和光镜样品修整的能手.